爐前碳硅分析儀數(shù)據(jù)不準(zhǔn)主要因素可能是溫度，爐前碳硅分析儀是建立在溫度測試的基礎(chǔ)上，在溫度測試中，環(huán)境溫度和熱分析儀內(nèi)部溫度對測試結(jié)果的影響不容忽視，環(huán)境溫度和熱分析儀內(nèi)部溫度變化不定會嚴重干擾儀器的正常工作或使儀器測試精度急劇下降，造成測試數(shù)據(jù)偏離真值，甚至?xí)斐蓽y試失敗。

解決環(huán)境溫度和熱分析儀內(nèi)部溫度變化對爐前碳硅分析儀的影響的問題，我們采取以下幾項措施：1.采用高精度溫度傳感器對環(huán)境溫度進行測量，測量數(shù)據(jù)送至微型計算機進行環(huán)境溫度的實時補償。2.在供電電源上采用低壓差集成式電源，此類電源效率高，功耗低，發(fā)熱量極微。3.優(yōu)化電路結(jié)構(gòu)，采用低功耗大規(guī)模集成芯片，減少芯片數(shù)量，使電路消耗功率成數(shù)量級的降低。

4.減少顯示器的數(shù)量，顯示器數(shù)量的增加雖然方便觀察測試數(shù)據(jù)，但顯示器的耗電量不容忽視，會造成供電電源負荷增加，使儀器內(nèi)部溫度大大高于環(huán)境溫度，也會造成儀器內(nèi)部溫度不均衡，增加溫度補償難度，造成測試精度下降。這些問題大都是影響碳硅儀內(nèi)部硬件造成的，如5g碳硅儀就將硬件移植云端，不會受到外界環(huán)境影響，檢測精準(zhǔn)度更高。

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