微分干涉顯微鏡的工作原理是怎樣的呢？微分干涉相襯法可以說是顯微鏡運(yùn)用中其中一種極具前途的分析檢驗(yàn)法。這種檢驗(yàn)法具有對(duì)金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對(duì)層次關(guān)系突出，并且呈明顯的浮雕狀，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，可進(jìn)行彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。

在金相顯微鏡檢驗(yàn)方法中，微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗(yàn)的一種強(qiáng)有力的工具，其特點(diǎn)主要為：1、對(duì)金相樣品的制備要求降低，對(duì)于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進(jìn)行觀察。優(yōu)點(diǎn)是可以觀察到樣品表面的真實(shí)狀態(tài)，如將試樣拋光后在真空下發(fā)生相變，不用腐蝕就可以觀察到相變浮凸。2、所觀察到的表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對(duì)層次關(guān)系都能顯示出來，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能作出正確的判斷，提高了金相檢驗(yàn)準(zhǔn)確性，同時(shí)也增加了各相間的反差。3、用微分干涉相襯法觀察樣品，會(huì)看到明場(chǎng)下所看不到的許多細(xì)節(jié)，明場(chǎng)下難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，可通過微分干涉進(jìn)行反差增強(qiáng)而容易判斷。4、微分干涉相襯法基于傳統(tǒng)的正交偏光法，又巧妙地利用了在棱鏡基礎(chǔ)上改良的DIC 棱鏡和補(bǔ)色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學(xué)干涉的方法染上豐富的色彩，從而可利用彩色膠卷或者數(shù)碼產(chǎn)品(CCD 攝像頭以及數(shù)碼相機(jī))進(jìn)行彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與樣品細(xì)節(jié)的浮雕像以及色彩都是可以調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。