金相顯微鏡微分干涉相襯法有什么特點？ 微分干涉顯微鏡在工業(yè)中的應(yīng)用很多，而微分干涉相襯法在材料顯微分析中的效果顯著，是一種極具前途的分析檢驗方法，且對樣品的制備要求不高，微分干涉相襯法相對層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細節(jié)或缺陷，可進行彩色金相攝影等優(yōu)點。      

在金相顯微鏡檢驗方法中，微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗的一種強有力的工具，其特點主要為:  1、對金相樣品的制備要求降低，對于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進行觀察。優(yōu)點是可以觀察到樣品表面的真實狀態(tài)。2、所觀察到的表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對層次關(guān)系都能顯示出來，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能作出正確的判斷，提高了金相檢驗準確性，同時也增加了各相間的反差。3、用微分干涉相襯法觀察樣品，會看到明場下所看不到的許多細節(jié)，明場下難于判別的一些結(jié)構(gòu)細節(jié)或缺陷，可通過微分干涉進行反差增強而容易判斷。4、微分干涉相襯法基于傳統(tǒng)的正交偏光法，又巧妙地利用了在棱鏡基礎(chǔ)上改良的DIC 棱鏡和補色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學干涉的方法染上豐富的色彩，從而可利用彩色膠卷或者數(shù)碼產(chǎn)品(CCD 攝像頭以及數(shù)碼相機)進行彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與樣品細節(jié)的浮雕像以及色彩都是可以調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。

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