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金相顯微鏡檢驗方法-微分干涉相襯法介紹[博越儀器]

作者:博越儀器 發(fā)布時間:2022-09-02 11:32:33 瀏覽人數(shù):2702

金相顯微鏡檢驗方法中,微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗的一種強有力的工具,其特點主要為: 1、對金相樣品的制備要求降低,對于某些樣品,甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進行觀察。優(yōu)點是可以觀察到樣品表面的真實狀態(tài),如將試樣拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變,不用腐蝕就可以觀察到馬氏體的相變浮凸。

 

金相顯微鏡檢驗方法


2、所觀察到的表面具有明顯的凹凸感,呈浮雕狀,樣品各組成相間的相對層次關系都能顯示出來,對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能作出正確的判斷,提高了金相檢驗準確性,同時也增加了各相間的反差。3、用微分干涉相襯法觀察樣品,會看到明場下所看不到的許多細節(jié),明場下難于判別的一些結(jié)構(gòu)細節(jié)或缺陷,可通過微分干涉進行反差增強而容易判斷。

 

金相顯微鏡檢驗方法


4、微分干涉相襯法基于傳統(tǒng)的正交偏光法,又巧妙地利用了在渥拉斯頓棱鏡基礎上改良的DIC 棱鏡和補色器(λ-片)等,使所觀察的樣品以光學干涉的方法染上豐富的色彩,從而可利用彩色膠卷或者數(shù)碼產(chǎn)品(CCD 攝像頭以及數(shù)碼相機)進行彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與樣品細節(jié)的浮雕像以及色彩都是可以調(diào)節(jié)的,因而比正交偏光更為優(yōu)越。微分干涉相襯法在生物醫(yī)學領域得到了廣泛的重視,然而,到目前為止從發(fā)表的有關材料金相研究的論文中,國內(nèi)外基于微分干涉相襯法進行材料金相研究的工作開展得很少。其原因主要有兩個方面:一方面是由于配備微分干涉相襯部件的金相顯微鏡不是很多;另一方面,許多材料科學工作者還沒有意識到微分干涉相襯法在材料研究中的優(yōu)勢。

 

金相顯微鏡檢驗方法


以上就是金相顯微鏡檢驗方法中微分干涉相襯法介紹,如果你還有其他方面還遇到一些困難的,可以咨詢博越儀器,屆時會有專業(yè)的技術(shù)人員為您解答。


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