原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。那原子力顯微鏡 使用是怎樣的呢？下面我們來一起了解下。

打開計(jì)算機(jī)主機(jī)、顯示器;打開Nanoscope控制器;打開Dimension Stage控制器。選擇合適的探針和夾;安裝探針;安裝探針夾到原子力顯微鏡上。將激光打在懸臂前端;調(diào)整檢測器位置;接著啟動(dòng)軟件，在原子力顯微鏡視野中預(yù)先找到探針位置非常重要。若不如此做，可能會(huì)發(fā)生撞針的情況。

然后就是進(jìn)樣，樣品制備和聚焦樣品。再掃描圖像，有ScanAsyst智能模式和Tapping 模式及Contact 模式，選擇模式后點(diǎn)擊 Engage進(jìn)針，進(jìn)針結(jié)束開始掃圖。將Scan size設(shè)置成要掃描的范圍。zui后對(duì)原子力顯微鏡的掃描圖像存圖，通過可以設(shè)置文件名及存圖路徑。點(diǎn)擊退針關(guān)機(jī)即可。

以上原子力顯微鏡 使用產(chǎn)品博越均有，具體采購哪一種需要結(jié)合企業(yè)被檢測材料，可以來電咨詢博越20年實(shí)戰(zhàn)工程師evo電子掃描顯微鏡價(jià)格，為您定制專業(yè)1v1方案。