電子顯微鏡已經(jīng)成為表征各種材料的有力工具。 它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應(yīng)用中非常有價(jià)值的工具。 其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描式電子顯微鏡（SEM）。 

一般來(lái)說(shuō)，透射電鏡（TEM）的操作更為復(fù)雜。 透射電鏡（TEM）的用戶需要經(jīng)過(guò)強(qiáng)化培訓(xùn)才能操作設(shè)備， 在每次使用之前需要執(zhí)行特殊程序，包括幾個(gè)步驟以確保電子束對(duì)中。那我們?cè)赟EM和TEM之間如何做出選擇呢？

從所提到的一切來(lái)看，顯然沒(méi)有“更好”的技術(shù); 這完全取決于需要的分析類(lèi)型。 當(dāng)用戶想要從樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)獲得信息時(shí)，透射電鏡（TEM）是zui佳的選擇，而當(dāng)需要樣品表面信息時(shí)，掃描電鏡（SEM）是。 當(dāng)然，主要決定因素是兩個(gè)系統(tǒng)之間的巨大價(jià)格差異，以及易用性。 透射電鏡（TEM）可以為用戶提供更多的分辨能力和多功能性，但是它們比掃描電鏡（SEM）更昂貴且體型較大，需要更多操作技巧和復(fù)雜的前期制樣準(zhǔn)備才能獲得滿意的結(jié)果。

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