環(huán)境掃描電子顯微鏡與掃描電子顯微鏡有區(qū)別嗎?掃描電鏡是直接觀察物體表面結(jié)構(gòu)特征，透射電鏡則是觀察物體內(nèi)部的精細結(jié)構(gòu)。ESEM顯微鏡指環(huán)境掃描電子顯微鏡，它比一般的掃描電鏡更為高效，顯示的圖片更為清晰立體，并且比傳統(tǒng)掃描電鏡工作方式所需的真空度低很多。掃描電鏡應(yīng)用最為廣泛的是對纖維的掃描，并且也是被稱為“最適合掃描纖維的”，比如餐巾紙，空氣過濾器等運用了無紡布的產(chǎn)品都會連帶著運用掃描電鏡技術(shù)，以便對產(chǎn)品作出改進，使其更加高效提高質(zhì)量。

環(huán)境掃描電子顯微鏡(ESEM)采用多級真空系統(tǒng)、氣體二次電子信號探測器等獨特設(shè)計。觀察不導(dǎo)電樣品不需要鍍導(dǎo)電膜，可以在控制溫度、壓力、相對濕度和低真空度的條件下進行觀察分析含水的、含油的、已污染的、不導(dǎo)電的樣品，減少了樣品的干燥損傷和真空損傷。

環(huán)境掃描電子顯微鏡在實際使用上的另一個重要特點是景深大，圖象富立體感，故所得掃描電子象富有立體感，具有三維形態(tài)，能夠提供比其他顯微鏡多得多的信息，這個特點對使用者很有價值，在材料學(xué)上主要用于納米材料分析、材料斷面分析。在教學(xué)、科研和生產(chǎn)中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。而環(huán)境掃描電子顯微鏡的動態(tài)觀察功能擴大了應(yīng)用范圍。

環(huán)境掃描電子顯微鏡/掃描電子顯微鏡對于固體材料的研究應(yīng)用非常廣泛，沒有任何一種儀器能夠和其相提并論。對于固體材料的全面特征的描述，掃描電子顯微鏡是至關(guān)重要的。