金相顯微鏡是普遍用以冶金工業(yè)、機(jī)械加工制造、高新科技等領(lǐng)域的檢測(cè)儀器。它能夠精確測(cè)量金屬?gòu)?fù)合材料合金成分馬氏體的晶粒大小等級(jí)、原材料熱處理工藝后滲氮層的薄厚等。為了更好地提升 原材料產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)制造水準(zhǔn)，務(wù)必對(duì)金相顯微鏡開展校正或計(jì)量檢定。金相顯微鏡關(guān)鍵分成電子光學(xué)式金相顯微鏡、電子數(shù)碼金相顯微鏡、攜帶式視頻金相顯微鏡、wan能金相顯微鏡、圖象檢測(cè)儀等.因?yàn)楦鞣N各樣金相顯微鏡的主要用途不一樣，所以種類、構(gòu)造及精密度亦不一樣，因此追溯關(guān)聯(lián)和方法也不一樣。根據(jù)不一樣的方式方法和方式 ，Z終可追溯到“單刻線樣版規(guī)范器組”和“0.01mm規(guī)范測(cè)微尺”規(guī)范器組。倒置金相顯微鏡檢定規(guī)程如下。

倒置型金相顯微鏡校正新項(xiàng)目

1、物鏡場(chǎng)曲:將金相顯微鏡物鏡安裝好，將0.01mm規(guī)范測(cè)微尺放到工作中臺(tái)子上并卡緊;轉(zhuǎn)動(dòng)變焦旋紐，將聚焦點(diǎn)調(diào)節(jié)在測(cè)微尺的正中間，視場(chǎng)管理中心顯像清楚，這時(shí)將千分尺測(cè)頭與操作臺(tái)表層相觸碰并對(duì)好表的零位;再度轉(zhuǎn)動(dòng)變焦旋紐，把聚焦點(diǎn)調(diào)節(jié)到測(cè)微尺的邊沿，使視場(chǎng)邊沿顯像清楚。觀查千分尺，其Zda偏移量即是該物鏡的場(chǎng)曲差值，其他物鏡依此類推開展校正。

2、物鏡變大倍率的準(zhǔn)確性,金相顯微鏡裝上10x規(guī)范目鏡和被檢物鏡，將0.01mm規(guī)范測(cè)微尺放到工作中臺(tái)子上并卡緊。觀查時(shí)測(cè)微尺應(yīng)與目鏡中的分劃板相一致，其偏移則是變大倍率的差值。其他物鏡依此類推開展校正，其差值不超5%。

3、目鏡分劃板的精確度,將帶分劃板目鏡的攝像鏡頭旋下，把分劃板置放在工作中臺(tái)子上并調(diào)準(zhǔn)鏡頭焦距;調(diào)節(jié)操作臺(tái)，使分劃板的直線與豎向滑軌行程安排平行面并對(duì)好零位，按每20格精確測(cè)量一次，直到第100格，其差值不超5μm。

4、物鏡顯像清楚范疇,用被檢物鏡及10x目鏡對(duì)測(cè)微尺或金相分析試件開展變焦，使顯像清楚。當(dāng)視場(chǎng)管理中心像Z清楚時(shí)，測(cè)得視場(chǎng)內(nèi)的顯像清楚范疇的差值不少于60%。

5、各物鏡相對(duì)性于目鏡的格值,裝上金相顯微鏡的10x目鏡，將0.01mm規(guī)范測(cè)微尺(強(qiáng)烈推薦應(yīng)用任意0.01mm測(cè)微尺)放到工作中臺(tái)子上并卡緊;調(diào)節(jié)測(cè)微尺尺標(biāo)中心線與金相顯微鏡目鏡分劃板尺標(biāo)中心線平行面，并讀取目鏡分劃板i條刻線里包括測(cè)微尺n條刻線數(shù)，該物鏡相對(duì)性于目鏡的格值為：C=n/i×0.01mm。其他物鏡的格值依此類推開展校正。

6、倒置金相顯微鏡示值誤差

①方式 一,這一計(jì)量檢定法應(yīng)在不一樣的變大倍率標(biāo)準(zhǔn)下開展。Z寬的單刻線樣版用以計(jì)量檢定變大倍率Z小的物鏡，其他以此類推。將單刻線樣版放置金相顯微鏡的工作中臺(tái)子上，調(diào)節(jié)儀器設(shè)備使樣版在視場(chǎng)發(fā)生清楚的象，依靠?jī)x器設(shè)備操作臺(tái)的求微分筒挪動(dòng)樣版，使單刻線的運(yùn)用段連著2個(gè)標(biāo)記展現(xiàn)在儀器設(shè)備目鏡的分劃板中;轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡視角，使樣版的刻線方位與分劃板的刻線豎直，并讀取在單刻線總寬上所包括的分劃板的刻線數(shù)。物鏡的格值C乘于刻線數(shù)i即是儀器設(shè)備測(cè)出的單刻線總寬值。金相顯微鏡示值誤差δ可由下式明確：δ=(L標(biāo)-L測(cè))/L標(biāo)×1**%(式中：L標(biāo)——計(jì)量檢定資格證書上所標(biāo)出的樣版刻線總寬)用單刻線樣版以同樣的方式 對(duì)各種各樣物鏡各自開展計(jì)量檢定，其示值誤差δ均不超過有關(guān)要求。

②方式 二,如被檢金相顯微鏡的格值是用任意0.01mm測(cè)微尺校準(zhǔn)的，可以用規(guī)范測(cè)微尺計(jì)量檢定示值誤差。將規(guī)范測(cè)微尺放置儀器設(shè)備工作中臺(tái)子上，調(diào)節(jié)測(cè)微尺尺標(biāo)中心線與儀器設(shè)備目鏡分劃板尺標(biāo)中心線平行面，并讀取目鏡分劃板i條刻線里包括測(cè)微尺n條刻線數(shù)。儀器設(shè)備測(cè)出的長(zhǎng)短L測(cè)=iC，其所相匹配的規(guī)范測(cè)微尺長(zhǎng)短為L(zhǎng)標(biāo)=n×0.01mm，則金相顯微鏡的示值誤差為：δ=(L標(biāo)-L測(cè))/L標(biāo)×1**%(式中：L標(biāo)——計(jì)量檢定資格證書上所標(biāo)出的規(guī)范測(cè)微尺長(zhǎng)短)用規(guī)范測(cè)微尺以同樣的方式 對(duì)各種各樣物鏡各自開展計(jì)量檢定，其示值誤差δ均不超過有關(guān)要求。

③方式 三,在計(jì)量檢定電子數(shù)碼金相顯微鏡、攜帶式視頻金相顯微鏡、wan能金相顯微鏡、圖象檢測(cè)儀時(shí)，將單刻線樣版或規(guī)范測(cè)微尺放置工作中臺(tái)子上，用儀器設(shè)備顯示屏清晰度長(zhǎng)短值，可立即讀取單刻線的總寬值或測(cè)微尺的長(zhǎng)短值。

金相顯微鏡示值誤差δ可由下式明確：δ=(L標(biāo)-L測(cè))/L標(biāo)×1**%(式中：L標(biāo)——計(jì)量檢定資格證書上所標(biāo)出的樣版刻線總寬和規(guī)范測(cè)微尺長(zhǎng)短)用以上各個(gè)樣版或規(guī)范測(cè)微尺以同樣的方式 對(duì)各種各樣物鏡各自開展計(jì)量檢定，其示值誤差δ均不超過有關(guān)要求。

7、任意0.01mm測(cè)微尺示值誤差將測(cè)微尺放置工作中臺(tái)子上，調(diào)節(jié)測(cè)微尺使其尺標(biāo)中心線與操作臺(tái)挪動(dòng)方位平行面并對(duì)好零位，按每20格精確測(cè)量一次，直到第100格，其差值不超3μm。

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