臺(tái)式直讀光譜儀檢測(cè)范圍取決于光柵的起始波長(zhǎng)和光柵線對(duì)數(shù)，波長(zhǎng)越長(zhǎng)則色散效應(yīng)越大，光柵所覆蓋的波長(zhǎng)范圍就越小。 為了提高直讀光譜儀的光柵衍射效率，在提高制作工藝的基礎(chǔ)上，通常采用特殊鍍膜以增強(qiáng)反射率，從而增大光柵的衍射效率。閃耀波長(zhǎng)指與衍射角對(duì)應(yīng)的光能量強(qiáng)的衍射波長(zhǎng)。閃耀波長(zhǎng)由閃耀角來(lái)決定。由于每塊光柵的閃耀角不同，故其閃耀波長(zhǎng)也不同。當(dāng)入射角α、衍射角β與閃耀角θ相等時(shí)，閃耀波長(zhǎng)與閃耀角之間的關(guān)系式mλ=2dsinβ=2dsinθ，其中m=0，±1，±2……，d為光柵常量。

光柵光譜覆蓋范圍和分辨率是非常重要的參數(shù)，直接影響直讀光譜儀的檢測(cè)分析性能。光柵刻線的密度決定了光柵的分辨率和光譜范圍，光柵刻線密度越大，光柵分辨率越高，對(duì)應(yīng)的光柵光譜覆蓋范圍就越窄；反之，光柵刻線密度越小，光柵分辨率越低,對(duì)應(yīng)的光柵光譜覆蓋范圍就越小。因此直讀光譜儀的檢測(cè)范圍是由起始波長(zhǎng)加上光柵光譜的覆蓋范圍所得。如5代光譜分析儀就采用日本進(jìn)口光柵，元素檢測(cè)范圍全覆蓋。

總之，金屬分析光譜儀作為一種現(xiàn)代化的分析工具，其臺(tái)式光譜儀采購(gòu)設(shè)備性能受到多種因素的影響，而在選擇時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際需求及預(yù)算等因素進(jìn)行綜合考慮，從而最大限度地發(fā)揮金屬分析光譜儀的優(yōu)勢(shì)，提高金屬材料分析的效率和準(zhǔn)確性。本公司主要經(jīng)營(yíng)：光譜分析儀、金相顯微鏡、拉力試驗(yàn)機(jī)、碳硅分析儀、熔煉測(cè)溫儀等設(shè)備。