為什么碳硅儀內(nèi)部溫度降低？首先，爐前碳硅分析儀是建立在溫度測試的基礎(chǔ)上，在溫度測試中，環(huán)境溫度和熱分析儀內(nèi)部溫度對測試結(jié)果的影響不容忽視，環(huán)境溫度和熱分析儀內(nèi)部溫度變化不定會嚴(yán)重干擾儀器的正常工作或使儀器測試精度急劇下降，造成測試數(shù)據(jù)偏離真值，甚至?xí)斐蓽y試失敗。

碳硅儀內(nèi)部溫度降低大多由環(huán)境溫度和熱分析儀內(nèi)部溫度變化對爐前碳硅分析儀的影響的問題，我們可以采取以下幾項措施：1.采用高精度溫度傳感器對環(huán)境溫度進行測量，測量數(shù)據(jù)送至微型計算機進行環(huán)境溫度的實時補償。2.在供電電源上采用低壓差集成式電源，此類電源效率高，功耗低，發(fā)熱量極微。3.優(yōu)化電路結(jié)構(gòu)，采用低功耗大規(guī)模集成芯片，減少芯片數(shù)量，使電路消耗功率成數(shù)量級的降低。4.減少顯示器的數(shù)量，顯示器數(shù)量的增加雖然方便觀察測試數(shù)據(jù)，但顯示器的耗電量不容忽視，會造成供電電源負(fù)荷增加，使儀器內(nèi)部溫度大大高于環(huán)境溫度，也會造成儀器內(nèi)部溫度不均衡，增加溫度補償難度，造成測試精度下降。

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