場發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。下面我們就來進一步了解，場發(fā)射掃描電子顯微鏡的原理及應(yīng)用范圍。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。應(yīng)用范圍有生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡在操作時注意事項，首先，無磁性或弱磁性，不易潮解且無揮發(fā)性的固態(tài)樣品，樣品尺寸小于長80mm*寬60mm*高60mm，當樣品尺寸過大需切割取樣，粉末樣品最好由客戶選擇對樣品無污染的包裝方式。其次，取樣的時候避免手和取樣工具接觸到需要測試的位置，取下樣品后選擇是否鍍金處理，及時檢測樣成分品避免外來污染影響分析結(jié)果。

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