CMOS光譜儀，事實上就是產(chǎn)品中重要組成部件使用CMOS，CMOS光譜儀和一般的光譜儀不同，它既包含了CCD光譜議的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計臺理，操作簡單易學(xué)，采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。下面和大家說說哪些情況可以導(dǎo)致CMOS光譜儀測量不準(zhǔn)確？

影響CMOS光譜儀測量不準(zhǔn)確的因素：一、光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化分析操作對結(jié)果的影響，光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化分析操作不及時將會直接影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。所以對于儀器的來說，需要定時做儀器的標(biāo)準(zhǔn)化操作。二、聚光透鏡的影響，聚光透鏡是樣品被激發(fā)而發(fā)出的光進(jìn)入分光儀的唯 一通道，必須保持鏡面清潔干凈。但如果長期使用透鏡則會受到污染，透鏡外表面將會附著一層茶褐色物質(zhì)，時間越長，沉積越厚。另外，激發(fā)產(chǎn)生的金屬粉末也會粘附在透鏡的外表面上，使分析靈敏度降低，分析誤差增大。在對直讀光譜儀使用過程中，發(fā)現(xiàn)設(shè)備短期穩(wěn)定性較好，但長期穩(wěn)定性相對差一些，特別是對非金屬元素的影響較大。通過觀察，鐵基值下降30%時，說明透鏡已受污染，需及時對透鏡進(jìn)行處理。

影響CMOS光譜儀測量不準(zhǔn)確的因素：三、樣品處理的影響，采用火花發(fā)射進(jìn)行光譜分析時，樣品表面處理好壞將直接影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確度。實驗發(fā)現(xiàn)：如果樣品過熱，則氮的分析結(jié)果的波動大，精度較差。所以相比研磨片制樣，采用車床進(jìn)行加工制樣，效果更佳，制樣時間短、樣品表面平整、紋理清晰、不易污染，試樣不會過熱，試樣的分析精度也會比較高。四、氣源純度的影響，光譜分析氣體所用氬氣純度有較高的要求，因此使用高純氬（99.999%），且管路的接頭無任何泄漏點，從而保證分析結(jié)果穩(wěn)定性。另外，可使用氬氣凈化機(jī)，保證氬氣的純度。

如果您還想了解有關(guān)CMOS光譜儀的資訊，可以持續(xù)關(guān)注我們的更新，或者直接來電咨詢，20年實戰(zhàn)經(jīng)驗工程師在線為您解答。