金礦石地質(zhì)樣品中AU元素直接低水平含量，在其部分光譜中，來自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干擾可以產(chǎn)生假陽性Au測定。但是通過x射線熒光金礦石分析儀直接測量Au元素可以在特定情況下實(shí)現(xiàn)，例如高含量的（> 5ppm）石英脈環(huán)境（相對無干擾）或精制高濃度的Au產(chǎn)品。因此一些現(xiàn)場采礦實(shí)驗(yàn)室也開始使用x射線熒光金礦石分析儀代替?zhèn)鹘y(tǒng)火試驗(yàn)技術(shù)。

這也與其檢測精準(zhǔn)度有關(guān)，這就不得不提及其內(nèi)部的硬件：光路系統(tǒng)。光路系統(tǒng)是產(chǎn)生x射線熒光并且對光譜進(jìn)行分析的設(shè)備，而現(xiàn)在市場上的光路系統(tǒng)一般分為進(jìn)口和國產(chǎn)，而因?yàn)閲鴥?nèi)礦石分析儀研發(fā)的時間起步晚，在內(nèi)部基礎(chǔ)硬件（光柵，傳感器）上仍然有一些差距。在采購時企業(yè)可以結(jié)合自身情況進(jìn)行選擇。像金屬于貴金屬成本高，對于材料檢測精準(zhǔn)度要求嚴(yán)格，那采購進(jìn)口手持礦石分析儀無疑是更有利的，更有利于金礦石的開發(fā)使用。