正置金相檢測顯微鏡是金相顯微鏡的分支，在觀察時成像為正像，這對倒置金相顯微鏡使用者的觀察與辨別帶來了極大的方便，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。并且適合用于觀察大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。

其次，在對需要被觀察材料進行制樣時，需要進行雙面打磨，并且正置的物鏡向下，試樣放在下面，能夠在制樣上節(jié)省更多的時間，效率更高。正是因為其正置金相顯微鏡特性被很多企業(yè)高校采購，如高校的金相學課程也會采用金相顯微鏡使用，這類學校對于應用于教學的顯微鏡要求性能更加高。

像來采購45°金相顯微鏡的某高校的王老師，因為是應用于教育領域，因此對性能方面要求嚴格，而因為自己是金相學老師對于金相顯微鏡非常熟悉，在自己實地進行考察時，都會自己動手檢測下效果。檢測的結果讓對方非常滿意表示“性能很好，不輸于那些進口的顯微鏡”。在向領導匯報后，當天傍晚就與我們簽訂了合約。

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