光譜分析儀測(cè)金屬元素?cái)?shù)據(jù)是判斷金屬質(zhì)量的檢測(cè)分析設(shè)備，光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過(guò)樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量。而在進(jìn)行這類檢測(cè)時(shí)，大家zui害怕的就是測(cè)金屬元素?cái)?shù)據(jù)出現(xiàn)誤差，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常是不一致，那其為什么會(huì)存在誤差呢？

從我們20年實(shí)戰(zhàn)工程師處了解到金屬元素分析儀誤差的性質(zhì)及其產(chǎn)生的誤差原因可分為:系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過(guò)失誤差3種，系統(tǒng)誤差是它是由于分析過(guò)程中某些經(jīng)常發(fā)生的比較固定的原因所造成的，它是可以通過(guò)測(cè)量而確定的誤差。偶然誤差是一種無(wú)規(guī)律性的誤差，它是由于某些偶然的因素(如測(cè)定環(huán)境的溫度、濕度、振動(dòng)、灰塵、油污、噪音、儀器性能等的微小的隨機(jī)波動(dòng))所引起的，過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，沒(méi)有一定的規(guī)律可循，只能作為過(guò)失。

而對(duì)于金屬分析儀系統(tǒng)誤差這種由儀器自身造成誤差，我們?cè)诓少?gòu)時(shí)如何避免呢？那就需要對(duì)內(nèi)部核心配件光柵進(jìn)行判斷其是否優(yōu)質(zhì)，光譜分析儀原理，通過(guò)光譜儀對(duì)金屬折射光分解，按波長(zhǎng)排列，通過(guò)信息的抓取、以照相底片顯影，或電腦化自動(dòng)顯示數(shù)值儀器顯示和分析，從而測(cè)知物品中含有何種元素。而光柵作為光譜儀光處理的核心設(shè)備，其的好壞直接影響光電直讀光譜儀誤差。而因?yàn)榇思夹g(shù)誕生于國(guó)外，光譜分析技術(shù)研發(fā)較早，因此5代光譜儀就采用的德國(guó)蔡司的光柵，在檢測(cè)時(shí)誤差更小，更滿足大家精準(zhǔn)檢測(cè)保證質(zhì)量的需求。