元素分析儀是一種基于XRF(X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成,具有高效、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn),下面和大家分享下元素分析儀原理與使用。
首先,微量 元素分析儀用途非常廣泛,涉及:電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測(cè)、土壤監(jiān)測(cè)、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領(lǐng)域,這主要得益于手持式光譜儀工作原理。
元素分析儀原理是技術(shù)就是當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。而根據(jù)此原理研發(fā)的元素分析儀因?yàn)槠湓影l(fā)生碰撞的時(shí)間不同,造成檢測(cè)速度會(huì)有誤差,如ip-5000元素分析儀采用進(jìn)口核心檢測(cè)系統(tǒng),靠近被檢測(cè)材料一鍵激發(fā)3秒得結(jié)果。
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