金相試樣制備及光學(xué)顯微鏡其實(shí)非常簡單，首先我們了解下光學(xué)顯微鏡，光學(xué)金相顯微鏡的構(gòu)造一般包括放大系統(tǒng)、光路系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)三部分，其中放大系統(tǒng)是顯微鏡的關(guān)鍵部分。目前主要是電腦型金相顯微鏡，是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)完美地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進(jìn)行分析，評級等以及對圖片進(jìn)行輸出、打印。

其次就是金相試樣制備金相光學(xué)顯微鏡操作流程，金相試樣的制備大體上有哪幾個(gè)步驟？金相試樣的制備大體上包括：1.試樣的截取，2.夾持或嵌鑲，3.粗磨和細(xì)磨，4.拋光，5.金相組織的顯示等幾個(gè)步驟。這是大家可能會(huì)疑惑的問金相試樣截取的原則、需考慮哪些等問題。下面就結(jié)合相關(guān)資料來為大家介紹下。

一般應(yīng)在圖紙和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中指定部位截取金相光學(xué)顯微鏡金相試樣，若沒有指定，通常要在零件的工作部位或結(jié)構(gòu)上較薄弱的環(huán)節(jié)取樣，若屬材料檢驗(yàn)往往考慮從組織較差的部位截取，對于廢品分析，往往從失效部位取樣，有時(shí)為了找出失效原因，還要從失效零件的正常部位或正常零件部件中截取對比樣品。

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