工業(yè)用金相顯微鏡是一種研究晶體缺陷十分有用的儀器，它在金屬材料和半導(dǎo)體材料領(lǐng)域有著廣泛的用途。例如，可以用它觀察半導(dǎo)體晶體中的位錯、體內(nèi)層錯和氧化層錯、晶格點陣無序等結(jié)構(gòu)缺陷。如在實際應(yīng)用探討鐵素體系球墨鑄鐵之奧氏體結(jié)構(gòu)，及均質(zhì)化與溫度對奧氏體的影響，并比較球墨鑄鐵與鋼之奧氏體化反應(yīng)的差異及其原因。使其成為鑄造里經(jīng)常會使用到的設(shè)備。

像這些經(jīng)均質(zhì)化處理后之球墨鑄鐵，其奧氏體優(yōu)先成核位置為球墨鐵素體界面，而在球墨周圍之奧氏體成長，主要是依靠碳原子的擴散進行，而未均質(zhì)化球墨鑄鐵的優(yōu)先成核、成長位置，包括球墨鐵素體界面與共晶胞晶界等，而在這類金相組織觀察時，因避免觀察時金相分析顯微鏡出現(xiàn)色差影響觀察。

這是因為工業(yè)金相顯微鏡在觀察時出現(xiàn)色差，會影響數(shù)碼設(shè)備對結(jié)晶體結(jié)構(gòu)的抓拍識別，因為色差現(xiàn)象的產(chǎn)生是由于光軸上的物點發(fā)出的多色光經(jīng)單透鏡成像時，各色光對應(yīng)的不重合的像點而造成的，在產(chǎn)生色差現(xiàn)象后，在觀察成像效果上，觀察區(qū)域周圍會產(chǎn)生模糊化，從而影響大家的觀察效果，因此45°金相顯微鏡就采用除色差技術(shù)，從根本上解決此類問題，大家在使用時也更放心。

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